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          IPCE量子效率的優勢分析

          發布時間:2017-07-20瀏覽:1908次
             IPCE量子效率的優勢分析
            IPCE量子效率用于測量、分析光電探測器、CMOS,CCD等器件的微小局部特性,由于CMOS單位畫素尺寸小于50微米,無法以一般的白光光源聚焦到微米等級的光斑,須采用激光光源方能聚焦到微米等級后,因此需要激光光束引致電流掃描圖譜儀,測量微小器件的居部特性。
            激光光束引致電流掃描圖譜儀為精密的光電轉換IPCE量子效率裝置,用于檢測光電探測器、CCD、CMOS器件的轉換效率、均勻度,光譜響應,IPCE量子效率等特性。其組成為激光源、聚焦光路集成系統、精密電動掃描平臺、光電流訊號量測系統、控制分析系統及軟件等五大部分.IPCE量子效率是一種測量量子效率(量子產額)的裝置。將試料放置在固定治具上之后, 按照專業軟件的指示操作,可以在短時間內完成試料的測量及解析。
            IPCE量子效率專注于簡單操作,IPCE量子效率使用軟件,操作簡單,節省空間,設計簡潔,使用分光器類型的激發光源,可以選擇任意波長,IPCE量子效率可以在軟件上設定激發光源的波長及步值,實現自動測量。
            IPCE量子效率專注于高精度測量:
            .可以瞬間測得量子效率(量子產額);
            .可以除去激發熒光發光光譜;
            .采用積分半球系統,IPCE量子效率實現高亮度測量;
            .采用低雜光多頻分光檢出器,大幅度減少紫外域的雜光。
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